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Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers

VergabestelleIHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
LandDeutschland
RegionDE403
Veröffentlicht11.09.2026
Eingabefrist13.10.2026

The procurement comprises the supply, delivery, installation, commissioning and integration of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system shall be suitable for DC and pulsed I-V measurements as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and shall be capable of integration with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope of supply includes, in particular, a shielded prober chamber with temperature-controlled chuck (-60 °C to +300 °C), six electrical Kelvin probes with triaxial FORCE/SENSE interfaces, automated microscope and camera systems, anti-vibration table, hardware and software control, PC and displays, all required cabling and interfaces, as well as installation, commissioning, integration support, operator training and technical documentation. The supplier …

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Fachgebiet

Diese Ausschreibung ist amtlich eingeordnet unter:

Weitere Verfahren von IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik

Diese Stelle hat derzeit 26 laufende Ausschreibungen.

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