200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
| Vergabestelle | IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik |
| Land | Deutschland |
| Region | DE403 |
| Veröffentlicht | 22.06.2026 |
200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
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